2015年1月29日，第15次AgriPheno論壇在上海浦東孫橋現代農業(yè)園區圓滿(mǎn)結束。來(lái)自荷蘭KeyGene公司的數字化植物表型主管Marco van Schriek先生做了題為“Exploitation of digital phenotype markers forprediction of Brassica napusfield seed yield”的報告。來(lái)自中科院植生所、中科院植物逆境中心、中國農科院生物所、上海交通大學(xué)、同濟大學(xué)、上海農科院、云南煙科院等單位的科研人員參加了本次論壇。

在報告中，Marco介紹了Keygene公司在植物表型研究領(lǐng)域的技術(shù)進(jìn)展，以“利用植物早期表型測定預測油菜產(chǎn)量”為例，分享了植物表型測量對于育種方向和過(guò)程的指導意義。隨著(zhù)各類(lèi)作物基因組測序完成，對于基因型研究越來(lái)越深入，而關(guān)于植物表型及其控制基因型之間的關(guān)聯(lián)的研究較少。目前，對表型的測量通常通過(guò)肉眼進(jìn)行，對于像顏色等難于正確識別的性狀，需要一個(gè)更加客觀(guān)的測量和記錄工具。

Keygene研究團隊通過(guò)測量油菜幼苗的葉片性狀、大小、株高等表型參數，對每株油菜幼苗每天同一角度進(jìn)行表型圖像采集，形成油菜植株電子化的生長(cháng)表型的信息庫。通過(guò)從圖像到植物數字表型的統計和關(guān)聯(lián)分析，對油菜產(chǎn)量進(jìn)行預測，并通過(guò)大田實(shí)驗驗證，得到了理想的數據關(guān)聯(lián)性。

講座結束后，參加論壇各單位研究人員就各自研究領(lǐng)域的表型測定與Marco進(jìn)行了深入交流，尤其對于目前表型測定研究熱點(diǎn)進(jìn)行了熱烈探討。

關(guān)于“AgriPheno論壇”
“AgriPheno論壇”是由高通量植物基因型-表型-育種服務(wù)平臺AgriPheno推出的一個(gè)學(xué)術(shù)交流活動(dòng)平臺，旨在促進(jìn)國內外相關(guān)學(xué)者、育種家、發(fā)明家和應用科學(xué)家與AgriPheno平臺和上海的農業(yè)科技人員之間的交流、互動(dòng)。該論壇不定期于A(yíng)griPheno平臺（上海市浦東新區沔北路185號孫橋現代農業(yè)園C9-1）舉行，每次會(huì )提前通過(guò)網(wǎng)站、微信等渠道發(fā)布通知。我們誠摯邀請相關(guān)學(xué)者、育種家、發(fā)明家和應用科學(xué)家在訪(fǎng)問(wèn)AgriPheno平臺時(shí)通過(guò)講座報告的形式參與該論壇；我們熱誠歡迎相關(guān)科研人員和研究生參與論壇的交流活動(dòng)。